常用电子元件参数测量实验报告,高温烘烤试验

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无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
更新时间
2024-06-19 11:00

详细介绍

常用电子元件参数测量实验报告,高温烘烤试验

判断晶振的好坏

先用万用表(r×10k挡)测晶振两端的电阻值,若为无穷大,说明晶振无短路或漏电;再将试电笔插入市电插孔内,用手指捏住晶振的任一引脚,将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分,若试电笔氖泡发红,说明晶振是好的;若氖泡不亮,则说明晶振损坏。

晶振

3.单向晶闸管检测

可用万用表的r×1k或r×100挡测量任意两极之问的正、反向电阻,如果找到一对极的电阻为低阻值(100Ω~lkΩ),则此时黑表笔所接的为控制极,红表笔所接为阴极,另一个极为阳极。晶闸管共有3个pn结,我们可以通过测量pn结正、反向电阻的大小来判别它的好坏。测量控制极(g)与阴极[c)之间的电阻时,如果正、反向电阻均为零或无穷大,表明控制极短路或断路;测量控制极(g)与阳极(a)之间的电阻时,正、反向电阻读数均应很大;测量阳极(a)与阴极(c)之间的电阻时,正、反向电阻都应很大。


常用电子元件参数测量实验,高温烘烤试验

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