芯片PCT加速老化试验箱
- 供应商
- 东莞市德祥仪器有限公司
- 认证
- 德祥仪器
- 广东东莞
- 温度范围
- 105℃~147℃
- 湿度范围
- 100%R.H
- 联系电话
- 0769-81330059
- 手机号
- 13650315209
- 联系人
- 刘经理
- 所在地
- 广东省东莞市洪梅镇疏港大道3号1号楼113室(注册地址)
- 更新时间
- 2024-05-27 07:59
芯片pct加速老化试验箱是一种专门用于进行芯片老化测试的设备。该设备通过模拟极端温度和湿度条件,加速芯
片的老化过程,以评估芯片在长期使用中的性能和稳定性。pct加速老化试验箱采用先进的技术和高质量的材料制
造,确保试验结果的准确性和可靠性。此设备可广泛应用于芯片制造和可靠性测试领域,有助于提高芯片的质量和
可靠性,并为芯片研发和生产过程提供重要的参考数据。它是现代科技领域不可或缺的工具,为芯片行业的发展做
出了重要贡献。
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