二极管失效分析测试,昆山盐雾试验
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- 无锡万博检测科技有限公司
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- 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
- 更新时间
- 2024-06-13 11:00
二极管失效分析测试,昆山盐雾试验
芯片边缘有电流烧蚀点(红圈)或塑封料碳化的结合物(蓝框),测试电性呈short,如图七。
此现象一般在老化过程中发现,一般有以下二种原因导致:
3.芯片破裂,测试电性呈vb衰降,如图八。
此现象一般在功能测试中发现,一般有以下三种原因导致:
4.芯片同时有电流烧蚀点和破裂现象,测试电性呈short或vb衰降,如图九、图十:
同时有电流烧蚀点和破裂的现象比较少见,由于因素也比较多,究竟是先因过流烧毁导致芯片受热变应力造成破裂?还是因芯片因被过压或机械应力损伤造成隐裂失效,才导致被过流烧蚀?只能判断出大概的原因,如图九,裂纹从烧蚀点扩散,分析可能为瞬间大电流击穿后,才造成的破裂;又如图十,应该芯片破裂后,失效时的过流在裂纹旁留下烧蚀点。
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