电子元件失效分析，铝合金过盐雾试验

电子元件失效分析，铝合金过盐雾试验

瞬时超温

通常铝电解电容器的芯包核心温度每降低10℃，其寿命将增大到原来的一倍。这个核心大致位于电容器的中心，是电容器内部热的点。可是，当电容器升温接近其大允许温度时，对于大多数型号电容器在125℃时，其电解液要受到电容器芯包的排挤（driven），导致电容器的esr增大到原来的10倍。在这种作用下，瞬间超温或过电流可以使esr性的增大，从而造成电容器失效。在高温和大纹波电流的应用中特别要警惕瞬时超温发生的可能，还要额外注意铝电解电容器的冷却。

04 瞬时过电压的产生

▶上电冲击

上电过程中，由于滤波电感释放储能到滤波电容器中，导致滤波电容器的过瞬时过电压。

上电过电压示意图

▶电容过电压失效的防范

电容器在过压状态下容易被击穿，而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。

选择承受瞬时过电压性能好的铝电解电容器，rifa有的铝电解电容器就给出了瞬时过电压值得参数。