脱落失效分析，电子元器件铜盐加速醋酸盐雾试验

脱落失效分析，电子元器件铜盐加速醋酸盐雾试验

晶体管电流放大系数发生变化、特性曲线发生变化，动态范围变小。
温度与允许功耗的关系如下：

公式中：
pcm：大允许功耗
ta：使用环境温度
tj：晶体管的结温度
rja：结与环境之间的热阻
由上式可以看出，温度的升高将使晶体管的大允许功耗下降。
＋
温度变化对电阻的影响
对于电阻温度变化的影响主要是在温度升高的时候。温度升高会引起电阻热噪声增加、阻值偏离标称值、允许耗散概率下降等现象。打比方说，rxt系列的碳膜电阻在温度升高到100℃时，允许的耗散概率仅为标称值的20%。
电阻的这一特性并不是只有坏处。比如，经过特殊设计的电阻：ptc（正温度系数热敏电阻）和ntc（负温度系数热敏电阻），它们的阻值受温度的影响很大，可以作为传感器。对于ptc，当其温度升高到某一阈值时，其电阻值会急剧增大。
利用这一特性，可将其用在电路板的过流保护电路中 ——当由于某种故障造成通过它的电流增加到其阈值电流后，ptc的温度急剧升高，同时，其电阻值变大，限制通过它的电流，达到对电路的保护。而故障排除后，通过它的电流减小，ptc的温度恢复正常，同时其电阻值也恢复到其正常值。对于ntc，它的特点是其电阻值随温度的升高而减小。