电子元器件表面缺陷检测,高温性能试验
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- 无锡万博检测科技有限公司
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- 奚家和
- 所在地
- 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
- 更新时间
- 2024-06-01 11:00
电子元器件表面缺陷检测,高温性能试验
场效应管是利用多数载流子导电, 所以称之为单极型器件,
而晶体管是即有多数载流子, 也利用少数载流子导电。 被称之为双极
型器件。 -
3) 有些场效应管的源极和漏极可以互换使用, 栅压也可正可负,
灵活性比晶体管好。 -
4) 场效应管能在很小电流和很低电压的条件下工作, 而且它的
制造工艺可以很方便地把很多场效应管集成在一块硅片上, 因此场效
应管在大规模集成电路中得到了广泛的应用。 -
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achitecture(结构): 可编程集成电路系列的通用逻辑结构。 -
asic(application specific integrated circuit-专用集成电路):
适合于某一单一用途的集成电路产品。 -
ate(automatic test e-自动测试设备): 能够自动测试组
装电路板和用于莱迪思 isp 器件编程的设备。 -
bga(ball grid array-球栅阵列): 以球型引脚焊接工艺为特征的
一类集成电路封装。 可以提高可加工性, 减小尺寸和厚度, 改善了噪
声特性, 提高了功耗管理特性。 -
boolean e(逻辑方程): 基于逻辑代数的文本设计输入方法。
boundary scan test(边界扫描测试): 板级测试的趋势。 为实现先
进的技术所需要的多管脚器件提供了较低的测试和制造成本。 -
cell-based pld(基于单元的可编程逻辑器件): 混合型可编程逻辑
器件结构, 将标准的复杂的可编程逻辑器件(cpld) 和特殊功能的模
块组合到一块芯片上。 -
cmos(complementary metal oxide semiconductor-互补金属氧化
物半导体): 先进的集成电路加工工艺技术, 具有高集成、 低成本、
低能耗和高性能等特征。 cmos 是现在高密度可编程逻辑器件(pld)
的理想工艺技术。 -
cpld(complex programmable logic device-复杂可编程逻辑器件):
高密度的可编程逻辑器件, 包含通过一个中央全局布线区连接的宏单
元。 这种结构提供高速度和可预测的性能。 是实现高速逻辑的理想结
构。 理想的可编程技术是 e2cmos?。 -
density (密度): 表示集成在一个芯片上的逻辑数量, 单位是门
(gate)。 密度越高, 门越多, 也意味着越复杂。 -
design simulation(设计仿真): 明确一个设计是否与要求的功能和
时序相一致的过程。 -
e2cmos?(electrically erasable cmos-电子可擦除互补金属氧化
物半导体): 莱迪思专用工艺。 基于其具有继承性、 可重复编程和可
测试性等特点, 因此是一种可编程逻辑器件(pld) 的理想工艺技术。
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