电子元器件表面缺陷检测,高温性能试验

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无锡万博检测科技有限公司
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销售经理
奚家和
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无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
更新时间
2024-06-01 11:00

详细介绍

电子元器件表面缺陷检测,高温性能试验

场效应管是利用多数载流子导电, 所以称之为单极型器件,

而晶体管是即有多数载流子, 也利用少数载流子导电。 被称之为双极

型器件。 -

3) 有些场效应管的源极和漏极可以互换使用, 栅压也可正可负,

灵活性比晶体管好。 -

4) 场效应管能在很小电流和很低电压的条件下工作, 而且它的

制造工艺可以很方便地把很多场效应管集成在一块硅片上, 因此场效

应管在大规模集成电路中得到了广泛的应用。 -

-

1:27 添加评论固定链接引用通告 (0) 记录电子专业英语术语-

achitecture(结构): 可编程集成电路系列的通用逻辑结构。 -

asic(application specific integrated circuit-专用集成电路):

适合于某一单一用途的集成电路产品。 -

ate(automatic test e-自动测试设备): 能够自动测试组

装电路板和用于莱迪思 isp 器件编程的设备。 -

bga(ball grid array-球栅阵列): 以球型引脚焊接工艺为特征的

一类集成电路封装。 可以提高可加工性, 减小尺寸和厚度, 改善了噪

声特性, 提高了功耗管理特性。 -

boolean e(逻辑方程): 基于逻辑代数的文本设计输入方法。

boundary scan test(边界扫描测试): 板级测试的趋势。 为实现先

进的技术所需要的多管脚器件提供了较低的测试和制造成本。 -

cell-based pld(基于单元的可编程逻辑器件): 混合型可编程逻辑

器件结构, 将标准的复杂的可编程逻辑器件(cpld) 和特殊功能的模

块组合到一块芯片上。 -

cmos(complementary metal oxide semiconductor-互补金属氧化

物半导体): 先进的集成电路加工工艺技术, 具有高集成、 低成本、

低能耗和高性能等特征。 cmos 是现在高密度可编程逻辑器件(pld)

的理想工艺技术。 -

cpld(complex programmable logic device-复杂可编程逻辑器件):

高密度的可编程逻辑器件, 包含通过一个中央全局布线区连接的宏单

元。 这种结构提供高速度和可预测的性能。 是实现高速逻辑的理想结

构。 理想的可编程技术是 e2cmos?。 -

density (密度): 表示集成在一个芯片上的逻辑数量, 单位是门

(gate)。 密度越高, 门越多, 也意味着越复杂。 -

design simulation(设计仿真): 明确一个设计是否与要求的功能和

时序相一致的过程。 -

e2cmos?(electrically erasable cmos-电子可擦除互补金属氧化

物半导体): 莱迪思专用工艺。 基于其具有继承性、 可重复编程和可

测试性等特点, 因此是一种可编程逻辑器件(pld) 的理想工艺技术。


电子元器件表面缺陷检测,高温性能试验

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