半导体测定机构,锂电池低温测试

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无锡万博检测科技有限公司
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销售经理
奚家和
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无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
更新时间
2024-06-15 11:00

详细介绍

半导体测定机构,锂电池低温测试

半导体封装元器件、晶闸管、陶瓷复合基板、电阻电容、金属焊接、igbt/iegt功率器件、smt、tsb、bga、qfn、dfn、to、cob等多种形式封装系列的生产制造过程中,会产生许多类型的封装与焊接缺陷。

hiwave超声检测半导体内部缺陷图

像元器件内部的裂纹、空洞、夹渣、以及封装贴片过程中产生分层、虚焊、空洞、气泡等,都需要一种精准快速的检测方法。

hiwave水浸超声扫描显微镜超声探头下水槽中的半导体

而水浸超声扫描显微镜,正是一种用于材料内部无损检测的高清成像设备。它主要利用超声反射与透射成像技术,为材料内部各个界面精准成像。

hiwave水浸超声扫描显微镜s500

在半导体封装检测领域,常用的观察材料内部图像设备有x-ray射线成像和超声扫描成像。

x-ray射线成像是基于材料密度差异的原理。向着材料发射一束射线,射线会穿透材料,将密度差异结构阴影显示在底片上面。

但射线检测会形成电离辐射,对人体本身有一定的危害。对于材料内部结构简单,具有明显密度差异的工件检测效果较佳,但对于材料内部面积型缺陷、多层结构工件、密度差异不明显的工件检测较为困难。


半导体测定机构,锂电池低温测试

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