电子元器件检测公司,锁具盐雾试验
- 供应商
- 无锡万博检测科技有限公司
- 认证
- 报价
- ¥100.00元每件
- 联系电话
- 13083509927
- 手机号
- 18115771803
- 销售经理
- 奚家和
- 所在地
- 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼
- 更新时间
- 2024-04-27 11:00
电子元器件检测公司,锁具盐雾试验
工作寿命与失效率
一般电信级应用要求光器件的工作寿命是20年,二十年累积失效率:<100fits。加速老化试验,是通过提高应力,用2000hr的试验结果推算器件的工作寿命。然后选择恰当的概率分布去计算器件的失效率。
这其中涉及两个模型,一个是针对单个器件性能退化的寿命外推模型,一个是针对于所有器件的累积失效的概率分布模型。推算寿命与失效率时,两个模型的选择非常重要。针对这两个模型以及后面失效率具体计算方法有机会再详细介绍,这里不做赘述。
mtbf(平均故障间隔)与fr(失效率)是评估器件故障率的两个指标。这两个参数是紧密相关的。从客户角度,一般会选择失效率作为出厂指标。失效率的常用单位是fit(1fit指10^9h 内,出现一次故障)。
产品生命周期内有两种失效模式:wear-out失效以及random失效。两种失效模式的表现形式有所不同,其对应概率分布函数也不相同。wear-out累积失效率指的是器件性能随时间累积的逐步退化,与样本量多少没有强相关;而random的累积失效率一般包含60%&90%两个置信度,与时间累积没有关联性,其计算结果与样本量*老化时间以及器件失效数量强相关,因此计算random fr需要投入大量的样本进行试验。一般情况下,产品发货前,这两个失效率的结果都需要反馈给客户。表2为产品可靠性报告中需呈现的失效率表格(来自gr468标准)。
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