元器件的失效分析，电容器失效分析

元器件的失效分析，电容器失效分析

电容器的常见失效模式有：

　　――击穿短路；致命失效

　　――开路；致命失效

　　――电参数变化（包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等；部分功能失效

　　――漏液；部分功能失效

　　――引线腐蚀或断裂；致命失效

　　――绝缘子破裂；致命失效

　　――绝缘子表面飞弧；部分功能失效

　　引起电容器失效的原因是多种多样的。各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同，失效机理也各不一样。

　　各种常见失效模式的主要产生机理归纳如下。

　　1失效模式的失效机理

　　1.1引起电容器击穿的主要失效机理

　　①电介质材料有疵点或缺陷，或含有导电杂质或导电粒子；

　　②电介质的电老化与热老化；

　　③电介质内部的电化学反应；

　　④银离子迁移；

　　⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤；

　　⑥电介质分子结构改变；

　　⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧；

1.2引起电容器开路的主要失效机理

　　①引线部位发生“自愈“，使电极与引出线绝缘；

　　②引出线与电极接触表面氧化，造成低电平开路；

　　③引出线与电极接触不良；

　　④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂；

　　⑤液体电解质干涸或冻结；

　　⑥机械应力作用下电介质瞬时开路。