电子产品高低温试验依据和标准

gb/t 2423.1-2001标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热两类试验样品，标准考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性。但低温试验不能用来评价试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力。

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低温试验方法分为以下三类:

非散热试验样品低温试验，温度突变试验，温度渐变散热试验样品低温试验。

温度渐变散热试验通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。

相关规范应规定:

a)试验箱内温度变化速率;

b)试验样品放入试验箱的时间;

c)试验样品在试验条件下baolu试验开始的时间;

d)试验样品通电或加负载的时间。