信号包括开关调整二极管击穿电压检测 百检检测

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1 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管gb/t 4023-2015 7.1.3.1 击穿电压v（br）

2 半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t 6571-1995 第Ⅳ章第1节 1 反向漏电流ir

3 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管gb/t 4023-2015 7.1.4.1 反向漏电流 ir

4 半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t 6571-1995 第Ⅳ章第2节 4 反向漏电流ir

5 半导体分立器件试验方法 gjb 128a-19974016 反向漏电流 ir

6 半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t 6571-1995 第Ⅳ章第2节 1 工作电压vz

7 半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t 6571-1995 第Ⅳ章第2节 2 微分电阻rz

8 半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t 6571-1995 第Ⅳ章第1节 2 正向电压vf

9 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管gb/t 4023-2015 7.1.2.1 正向电压 vf

10 半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t 6571-1995 第Ⅳ章第2节 5 正向电压vf

11 半导体分立器件试验方法 gjb 128a-19974011 正向电压 vf

12 半导体器件 分立器件第3部：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t6571-1995 第iv章第3节 击穿电压

13 半导体器件 分立器件第3部：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t6571-1995 第iv章第1节/第2节 反向电流

14 半导体器件 分立器件第3部：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t6571-1995 第iv章第2节 工作电压

15 半导体器件 分立器件第3部：信号（包括开关）和调整二极管 gb/t6571-1995 第iv章第1节/第2节 正向电压