集成电路-非易失性存储器-低温工作寿命检测测试

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1 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.3 低温工作寿命检测

2 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.7 低温读写

3 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.6 常温读写＋保存数据退化及只读检测

4 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.4 接口协议检测

5 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.5 擦写读取检测

6 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—20205.6.10 无偏压高加速温湿度寿命检测(uhast)

7 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.1 早夭期寿命检测

8 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.13 温度循环检测（tc）

9 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.8 湿敏等级检测

10 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.3 电气参数检测

11 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.7.2 芯片的 dpi 传导抗扰度

12 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie 070—2020 5.7.3 芯片的 eft 传导抗扰度

13 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.7.4 芯片的 pesd 传导抗扰度

14 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.7.1 芯片辐射电场抗扰度

15 工业级高可靠集成电路评价 第 4部分：非易失性存储器 t/cie070—2020 5.6.16 闩锁检测（latch-up）