发光二极管-人体模式静电放电敏感性测试-百检网
- 供应商
- 百检(上海)信息科技有限公司
- 认证
- 品牌
- 百检
- 资质
- CMA/CNAS
- 地区
- 全国
- 联系电话
- 4001017153
- 李敏
- 18501763637
- 经理
- 李先生
- 所在地
- 上海徐汇区普天科创产业园
- 更新时间
- 2022-10-20 02:16
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1 半导体光电子器件分规范(可供认证用) gb12565-1990 附录d表d1 反向电流
2 半导体光电子器件分规范(可供认证用) gb12565-1990 附录d表d1 正向电压
3 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.2.2 方法1002 反向电压
4 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.2.3 方法1003 反向电流
5 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.2.1 方法1001 正向电压
6 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.6.2 k系数
7 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.5.3 主波长和颜色刺激纯度
8 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.7.1 人体模式静电放电敏感性
9 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.3.3 光通量和光通量效率
10 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.3.2 半强度角和角偏差(θ1/2)
11 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.3.5 峰值发射波长(λp)、光谱带宽和光谱功率分布
12 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.3.1 平均led强度
13 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.4.1 开关时间
14 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.2.4 总电容
15 半导体发光二极管测试方法 sj/t11394-2009 5.7.1 机器模式静电放电敏感性
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