半导体XRD物相分析 锂电XRD测试选哪家
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- 广东省科学院半导体研究所
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- 2022-09-18 11:20
半导体xrd测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。.
xrd可以测的是:
1、结晶度的测定
结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛,如软磁材料等,而结晶度直接影响材料的性能,因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多,但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。
2、精密测阵参数
精密测阵参数常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。
这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数,锂电xrd测试选哪家,从而确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
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xrd是非常常用的表征手段,作为结构研究的一种重要方法,xrd在催化材料和其他材料的研究中都具有非常重要的应用。本次分享我们从实用开始,从它的用途,锂电xrd测试价格,具体原理以及实际操作,到原理的分析。
xrd研究的是材料的体相还是表面相?
xrd采用单色x射线为衍射源,一般可以穿透固体,从而验证其内部结构,因此xrd给出的是材料的体相结构信息。
xrd多以定性物相分析为主,但也可以进行定量分析。通过待测样品的x 射线衍射谱图与标准物质的x射线衍射谱图进行对比,可以定性分析样品的物相组成;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析。
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广角xrd
广角、小角xrd因测试角度范围而得名,广角即测试范围为10-120 °,常规广角测到90°即可,有机材料或者有机金属配位材料一般测到四五十度也是可以的。广角xrd是常用到的测试条件,有机、无机材料判断晶型、物相类型、pdf卡片等基本都是通过广角xrd测试得到的谱图分析得到的。一般大家口中的xrd,没有特别说明测试条件的都是指的广角xrd,有时为了区别于块体薄膜这些样品形态的,也叫pxrd,即粉末xrd。
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