微电子器件环境试验 GJB548B-2005-可靠性测试报告

   安车昇辉可以依据gjb548b-2005《微电子器件试验方法和程序》标准对各类军用微电子器件进行试验，并出具国家认可的检测报告。

    本标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序，以保证微电子器件满足预定用途要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。

   试验内容主要包括：低气压、绝缘电阻、耐湿、盐雾、温度循环、热冲击、寿命可靠性试验、机械冲击、振动疲劳等试验。 

深圳安车昇辉检测是已获得cnas资质认可的第三方检测机构，可出具产品检测报告、主要服务项目有霉菌、高低温、温度冲击、温度变化、恒温恒湿、交变湿热、盐雾、振动、冲击、自由跌落、机械冲击等可靠性测试服务，并出具cnas检测报告气候环境可靠性试验：高低温循环，冷热冲击，快速温变，高温湿热，恒温恒湿，交变湿热、低气压， 、霉菌试验，mtbf（高温老化应力试验），halt（高加速应力寿命试验），hast（高压蒸煮试验）机械可靠性试验：振动试验（随机、正弦），三综合试验（振动试验+温度试验）、机械冲击、碰撞、跌落、斜面冲击、模拟包装运输试验、堆积抗压，颠振、腐蚀性试验：盐雾试验，交变盐雾、气体腐蚀 、人工汗液腐蚀，臭氧试验ip等级防尘防水试验

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