可靠性测试检测要求

可靠性测试检测要求，常见的执行标准：1、GJB150-86《设备环境测试方法》2、GB2423《电工电子产品基本环境测试规程》3、美军标MIL－STD－810F《环境工程考虑和实验室测试》
MTBF ：平均故障间隔时间（Mean Time betweenFailures）是衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标，单位为“小时”。反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力，指相邻二次故障的平均工作时间，仅适用于可维修产品MTBF测试的三种方法：1，预估法 2，试验法， 3加速法
电子产品可靠性测试目的
电子产品通过进行可靠性测试，可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量，为设计、生产和使用提供有用的数据。也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。
高低温测试是用带加热和制冷功能的可编程高低温箱进行测试。测试前先检查测试样品的状态，外观、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，将样品放入高低温箱中，设置温度箱的高温、低温值及各自保持的时间、变温的时间、周期数。
gjb150.7A太阳辐射试验（灯暴露试验、碳弧灯暴露试验、卤素灯暴露试验）加热效应主要是由太阳辐射能中红外光谱部分产生的，主要引起产品短时高温和局部过热造成一些对温度敏感的元器件失效，结构材料的机械破坏和绝缘材料的讨热损坏等。盐雾试验的失效机理有：1.腐蚀效应：电化学反应导致的腐蚀；2.加速应力腐蚀3.绝缘材料及金属的腐蚀。盐雾试验只有一个试验程序：百分之五的盐溶液，24小时喷雾，24小时干燥两种状态交替进行共进行96小时。

高低温试验：高低温冲击试验的目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力，主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部分具有开路隐患时，高低温冲击试验具有较好的鉴定效果，该实验一般用高低温冲击试验箱。
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