半导体失效分析测试,上海半导体失效分析检测机构
- 供应商
- 北京清析技术研究院
- 认证
- 联系电话
- 18855128475
- 手机号
- 18855128475
- 联系人
- 肖工
- 所在地
- 北京市海淀区王庄路1号B座6层7-C房间(住所)
- 更新时间
- 2024-05-17 09:00
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。
半导体检测范围
元素半导体、无机合成物半导体、有机合成物半导体、非晶态半导体、本征半导体、汽车级半导体、聚烯烃电缆半导体等。
半导体检测项目
老化试验、耐湿试验、盐雾试验、弯曲试验、晶体试验、可靠性试验、芯片断裂试验、热疲劳试验、耐高低温试验、机械冲击试验、高温蒸煮试验、耐腐蚀试验、温度循环试验、冷热冲击试验、高低温快速温变试验、电磁屏蔽试验、雷击浪涌试验等。
半导体检测标准
1、gb/t 8446.3-2022 电力半导体器件用散热器 第3部分:绝缘件和紧固件
2、gb/t 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸
3、gb/t 8446.1-2022 电力半导体器件用散热器 第1部分:散热体
4、gb/t 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法
5、gb/t 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照
6、gb/t 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范
7、gb/t 36360-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
8、gb/t 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
9、gb/t 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
10、gb/t 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性
11、gb/t 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
清析技术研究院可提供相关检测服务,提供cma/cnas资质检测报告,致力于产品研发、成分检测、成分分析、配方还原、未知物分析等检测技术服务。
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