电子元器件破坏性物理分析（DPA）检测流程办理

电⼦元器件制造⼯艺质量⼀致性是电⼦元器件满⾜其⽤途和相关规范的前提，元器件的设计、结构、材料和工艺等任何因素都有可能引起元器件的制造质量不同，导致元器件无法满足预定用途或有关规范的要求；另一方面，在装机后出现的相关问题，将推高整改与制造成本。因此，尽早预防使用有明显或潜在缺陷的元器件，并提出批次处理意见和改进措施，对提高电子元器件的使用可靠性、并终提升电子设备的质量显得尤为重要。

测试周期：

5～10个工作日

产品范围：

覆盖所有种类和封装的电子元器件型号，包含：电阻器；电容器；磁珠；电感器；变压器；晶体振荡器；晶体谐振器；继电器；半导体分立器件（二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等）；电连接器；开关及面板元件；半导体集成电路（时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、lvds线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、数模转换器（a/d、d/a、srd）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等）；滤波器；电源模块；igbt等。

测试项目：