SESD200 16.5kV静电枪 SCHLODER 二手放电发生器
- 供应商
- 深圳市新耀德电子仪器有限公司
- 认证
- 联系电话
- 13798823781
- 手机号
- 13530675117
- 联系人
- 曾碧新
- 所在地
- 深圳市龙岗区园山街道保安社区广达路57号6011-2
- 更新时间
- 2022-04-08 15:11
电磁兼容抗扰度测试设备 德国hllo-test可生产全系列高压和大电流测试设备,同时也可以生产满足lec61000-4系列标准的抗扰度测试设备: sesd200,静电放电测试仪满足lec61000-4-2 满足iec801-2,lec61000-4-2,en61000-4-2要求的测试。 接触放电:连续可调zui高可达8kv空气放电:连续可调zui高可达5kv ce-tester 一体化设计的电磁兼容测试设备,用于电磁兼容抗抗度测试 : •微处理器控制,前面板lcd菜单显示 • • • • • • • • 手动操作,或设置生成自动执行的测试进程内置打印接口,可直接打印测试报告 光隔离rs232c接口,可由外部计算机对设备实现远程控制 其中包括 电快速瞬变 满足 iec61000-4-4,en61000-4-4,vde 0847-4-4 浪涌 满足 lec61000-4-5,en610004-5,vde 08474-4-5 工频磁场 满足 lec 61000-4-8,en610004-8,vde 0847-4-8 脉冲磁场 8/20μs 满足 lec 61000-4-9,en 610004-9,vde0847-4-9 电压跌落与变化 满足 lec 61000-4-11 ,en610004-11 ,vde 0847-4-11ce-tester也可区分为以下单元分别应用,该单元可在将来轻松升级为完整的ce-test系统: ce-tester 1包括电快速瞬变和浪涌 将来可提供电压跌落与变化测试升级 ce-surge 1 只包括浪涌 将来可提供电快速瞬变和电压跌落与变化测试升级ce-surge2 包括浪涌和电压跌落与变化测试 将来可提供电快速瞬变和电压跌落与变化测试升级 eftg4510 电快速瞬变测试仪满足 lec61000-4-4 所要求的测试 波形:5/50ns,0.2-4.4kv,脉冲频率为1khz-1mhz可通过光隔离rs232进行控制 ce-surge 混合法形发生器 满足lec61000-4-5,leee587,vde0847-4-5所要求的测试。 波形为 :电压1.2/50us 电流为8/20us可通过光隔离 rs232 进行控制
sesd-200|sesd200 16.5kv静电枪|schloder|德国施罗德与施瓦茨
品牌:德国施罗德与施瓦茨 | schloder
* 内置电池或外置电源
* 空气或接触放电
* 输出电压至16.5kv
* 接触放电自动检测接触情况
* 容易使用
简介
sesd 200按iec61000-4-2标准要求产生静电。按iec标准有以下两种测试方式。
空气放电
空气放电是将sesd200的圆头放电咀向被测物件移近,透过空气向被测物放电。测试电压由100v至16500v。放电的瞬间可产生全频道的干扰电波。
接触放电
接触放电是将sesd200的尖头放电咀接触被测物,透过内部的真空开关向待测物放电。此方法可减低因速度、力度、湿度和温度影响。
接触放电是常用的一种方法,因此法之重复牲高,只有在不能接触的倩况下,例如:塑胶外壳,才使用空气放电。
注意事项:如测试咀未能接触待测对象(例如:表面己氧化) 这样便无法触发放电。显示器会出现"nocontact"字样。这样能保证每次放电皆符合标准。
sesd 200 带箱和配件
esd 产生器
外置电源和电池
测试咀
接地电缆
操作手册
规格
产生器
电压输出可由数字式旋钮调定
空气放电测试模式 0.2 kv 至16.5 kv
接触放电测试模式 0.2 kv 至9.0 kv
输出极牲 正极输出或负极输出
测试模式 空气放电或接触放电
重复频率和放电脉冲数
空气放电 一次或重复*
*(重复频率取决于被测物和放电极的距离)
接触放电 一次, 1 hz, 2 hz, 5 hz, 10 hz, 20 hz
固定操作 空气放电和接触放电皆可
等候时间 ≥ 5 秒
预设计数器 1 - 9999
放电电极 按iec 1000-4-2标准
电容量 150 pf ± 10% (可按要求改变)
放电电阻 330 w ± 5% (可按要求改变)
操作温度范围 0 - 40°摄氏
相对湿度 0 - 60%
重量 1500g
电源
电压 230 v ac / 50 hz
耗用功率 < 50 va
重量 1200 g
配件
sesd 200 m esd 模拟配件iec 61000-4-2 和mil-std-883 c (mil- m-38510,dod-std-1686)
sesd 260 光学接口包括窗口ms-windows软件。
sesd 270 esd磁探针