扫描电镜微观组织检测
- 供应商
- 广州国检检测有限公司
- 认证
- 全国服务热线
- 13926218719
- 联系人
- 熊大生
- 所在地
- 广州市番禺区南村镇新基村新基大道1号金科工业园2栋1层101房
- 更新时间
- 2024-12-25 10:00
扫描电镜(scanning electronmicroscope;sem)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。目前的扫描电镜都配有x射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
原理
高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱x
射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射.
仪器技术参数
分辨率: 30 kv,3.0 nm(高真空模式),背散射电子分辨率30 kv,4.0 nm(高真空模式).放大倍率:×5
-×300,000.加速电压0.3 - 30 kv.
送样要求
粉状样品1-5g之间,能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽,高度小于5mm.
应用领域
材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析,填料分散状态复合材料结构,材料晶型分析晶粒大
小,材料物相分析。元素定性分析。
适用标准
gb/t米级长度的扫描电镜测量方法通则
gb/t 17362-2008黄金制品的扫描电镜x射线能谱分析方法