扫描电镜微观组织检测

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广州国检检测有限公司
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联系人
熊大生
所在地
广州市番禺区南村镇新基村新基大道1号金科工业园2栋1层101房
更新时间
2024-06-22 10:00

详细介绍

扫描电镜(scanning electronmicroscope;sem)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。目前的扫描电镜都配有x射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。

原理

高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱x

射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射.

仪器技术参数

分辨率: 30 kv,3.0 nm(高真空模式),背散射电子分辨率30 kv,4.0 nm(高真空模式).放大倍率:×5

-×300,000.加速电压0.3 - 30 kv.

送样要求

粉状样品1-5g之间,能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽,高度小于5mm.

应用领域

材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析,填料分散状态复合材料结构,材料晶型分析晶粒大

小,材料物相分析。元素定性分析。

适用标准

gb/t米级长度的扫描电镜测量方法通则

gb/t 17362-2008黄金制品的扫描电镜x射线能谱分析方法


化学成分检测 物理性能测试 抗拉强度测试

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