HN11JD 开关测试仪校准装置 操作方法 华能电气

hn11jd 开关测试仪校准装置 操作方法华能电气 所述环形体积管包括气动球阀、气动三通球阀、气动四通球阀、收发球筒、快开盲板、弹性球置换器、标准管段和检测开关，所述气动四通球阀的两个进出水口，分别连接所述两个收发球筒，所述气动四通球阀另两个进出水口分别与气动球阀相连，所述检测开关固定在所述标准管段上，所述弹性球置换器放入所述收发球筒内，所述收发球筒与所述标准管段相连。所述超声波水表检测台包括气动球阀、气缸组、水表夹具、超声波水表和导轨，所述气动球阀与所述气缸组相连，所述气动球阀与所述环形体积管相连，所述气缸用于推动所述水表夹具，所述水表夹具在所述导轨上移动，所述超声波水表放在所述水表夹具上，所述水表夹具另一端通过所述气动球阀连接至所述多档位定点流量调节装置。
青岛华能远见电气有限公司位于旅游城市－－青岛市。我单位位于山东省青岛市平度南京路27号，是国内研制生产、经营电气测试、计量和校验装置仪器的化企业之一。我们以“超前、创新、开拓、进取”为企业精神，坚持“让用户都满意”的经营理念，使华能电气日益发展壮大。 
   企业服务分为五大类：交直流温升大电流测试系统；继电保护试验设备；高压实验装置和仪器；计量实验装置和仪器；油化分析仪器；电气实验室成套设计施工；测试配件和附件及定期的技术培训班。
hn-2021d高压开关特性测试仪检定装置
1、概述：
本仪器采用arm控制配合cpld产生高精度、宽范围的定时信号，并能模拟高压断路器的动作，可用于校验和检测高压断路器动特性测试仪的时间基准，用于校验高压开关测试仪时间测量功能。本装置既可单机使用，
也可以联接电脑使用。具体可以参考软件操作说明。
2、主要技术指标和使用条件：
2.1本装置可12路断口同时输出，可同时模拟12个高压断路器触头断口的合/分闸。
2.2可同时模拟高压断路器合闸或分闸时间，可在 0.001－20000.000ms范围内任意设置，
分辨率：1μs，
精度：0.001%读数±0.005ms; 
2.3弹跳脉冲个数可在  0－250个范围内任意设置，弹跳频率1khz、2khz、4khz、8khz可选择。
2.4支持不同期测试。
2.5支持内部触发、外部触发、有源触发、无源触发。
2.6环境温度：10－30度  环境湿度：小于85％
12路断口时间：
模拟高压断路器12路触头输出，前6路a1，b1，c1，a2，b2，c2与其前端黑色接地插孔共地，
后6路a3，b3，c3，a4，b4，与其前端黑色接地插孔共地，称之为虚地。如果要同时测量12路，
则要保证两个地相连。
支持每一个断口设置不同的时间，支持不同期设置。
4.2有源输入外触发：
由被校验的高压开关测试仪提供触发电压，输入触发电压的范围为：dc10－250伏。
4.3有源输出内触发：
由本校准装置提供触发电压来触发被校验的高压开关测试仪，输出电压：dc110v左右。
4.4无源触发端：
  主要用于校准本装置。

5、使用具体说明：
5.1接好高压开关测试仪和高压开关测试仪检定装置之间的测试线的地线（地线、断口线和控制线）。
然后开机，为保证仪器可靠性，开机预热5分钟以上再进行测试。      
5.2校准高压开关测试仪时间参数具体设置和操作：
a、检定装置设置：触发方式：外触发
触发类型：有源触发
脉冲输出：节点输出
弹跳频率：1k
弹跳频率可选1k,2k,4k,8k。弹跳频率大小对应弹跳的精细程度。频率越大，弹跳越精细。1khz弹跳间隔时间为1/1000=0.001s=1ms，2khz弹跳间隔时间为1/2000=0.0005s=0.5ms。
具体接线方法：如果高压开关测试仪外触发只有两根线，则不分正负接好就行了。如果高压开关测试仪外触发有四根线（合闸2根分闸2根），利用有源输出内触发方式操作，需要倒下线。即合闸校验时，两接线柱分别接高压开关测试仪外触发的合闸外触发端子（红黑插孔）；分闸校验时，两接线柱分别接高压开关测试仪外触发的分闸外触发端子（绿黑插孔）。
具体操作方法参考前文。
根据检定装置上显示的断口状态：如是分，则操作高压开关测试仪做合闸测试；如是合，则操作高压开关测试仪做分闸测试。先操作高压开关测试仪使之处于等待触发状态，然后将检定装置的光标移动到右侧的【开始校验】上面，按一下【确定】按键发触发命令：内触发信号由等待变为输出，校准装置驱动仪器完成动作，仪器界面出现相应的波形和时间、同期、弹跳等数据。

hn11jd 开关测试仪校准装置 操作方法华能电气多种商用固定式或手持式读取器经测试也可与这些标签配合使用。智能无源传感器采用激励回路，能够通过测量阻抗变化实现湿度或压力监测，并采用了一个无微控制器的自微调ic，其中含有自适应rfid前端、片载温度传感器以及用于标识的集成式存储器。标签使用行业标准第2代uhf协议进行通信。当读取器初始化通信时，ic测量此激励回路内的温度条件，并将含数字化温度的测量数据从片载传感器传输到读取器。