HNNY-2 工频耐电压测试仪 10KV 便携式耐压测试仪 5年保修

hnny便携式交直流耐压测试仪 hnny-2 工频耐电压测试仪 10kv 便携式耐压测试仪5年保修

   便携式耐压测试仪适用于电机、电器、仪器仪表和家用电器，以及强电系统的安全耐压和漏电流的测试。该仪器操作方便，，性能良好，维修方便。是符合gb4706.1《家用和类似用途电器安全通用要求》和gb9706.1《医用电气安全通用要求》及gb4943、gb4793等标准中相关条款的试验要求所需的测试设备。

    电源输入：220v±10%  
    装置容量：0.5kva
    电压输出：0～5000v ～10000v-20000v-50000v
   漏电流、报警电流：0.5-20ma（可按需定制）
                    0.5-200ma（选配）
    基本误差：±（5%r+3d）
    输出波形：正弦波
    时间测试范围：1s～99s，连续设定和手动；
hnny-2 工频耐电压测试仪 10kv 便携式耐压测试仪5年保修半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，封装和封装后测试组成，晶圆制造和封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路测试的相关内容，主要集中在wat，cp和ft三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图wat（waferacceptancetest）测试，也叫pcm（processcontrolmonitoring），对wafer划片槽（scribeline）测试键（testkey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，cmos的电容，电阻，contact，metalline等，一般在wafer完成制程前，是wafer从fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用probecard扎在testkey的metalpad上，probecard另一端接在wat测试机台上，由watrecipe自动控制测试位置和内容，测完某条testkey后，probecard会自动移到下一条testkey，直到整片wafer测试完成。