无损检测 X射线检测 四种无损检测方法比较
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- 更新时间
- 2024-05-10 08:30
x射线检测
一种,射线检测,是因为x射线穿过被照射物体后会有损耗,不同厚度不同物质对它们的吸收率不同,而底片放在被照射物体的另一侧,会因为射线强度不同而产生相应的图形,评片人员就可以根据影像来判断物体内部的是否有缺陷以及缺陷的性质
射线检测的适用性和局限性:
1、对检测体积型的缺陷比较敏感,比较容易对缺陷进行定性。
2、射线底片易于保留,有追溯性。
3、直观显示缺陷的形状和类型。
4、缺点不能定位缺陷的埋藏深度,同时检测厚度有限,底片需专门送洗,并且对人身体有一定害,成本较高。
总而言之,超声波、x射线探伤适用于探伤内部缺陷;其中超声波适用于5mm以上,且形状规则的部件,x射线不能定位缺陷的埋藏深度,有辐射。磁粉、渗透探伤适用于探伤部件表面缺陷;
其中磁粉探伤于检测磁性材料,渗透探伤于检测表面开口缺陷。
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