扬州硅粉二氧化硅检测 粉末比表面积检测

背景技术：

二氧化硅具有良好的物理化学性质和生物相容性，是世界上复杂、丰富的材料家族之一，作为多种矿物的化合物和合成产品而存在。常见的有熔融石英、气相二氧化硅，广泛应用于玻璃、陶瓷及耐火材料、冶金、建筑、化工、机械、电子、橡胶、塑料、涂料、环保、医药、食品工业及科研等领域。

根据晶格的性质，自然界有两种硅。一种是晶体sio2，它是一种共价晶体，其中的si原子位于由四个o原子组成的规则四面体的中心，形成稳定的晶格结构；另一种是非晶体二氧化硅，其原子的晶格网络是长期无序排列的，其微观结构特点使其具有良好的机械性能和渗透性、比表面积大、密度低、热稳定性好等高活性，广泛应用于医药行业作为填料、抗塑剂、崩解剂、防潮剂、助磨剂、缓释赋形剂等。然而，许多功能如崩解性能，持续或控制释放性能与其表面积的大小密切相关。

目前，用于测量无定形固体颗粒的比表面积(包括bet和langmuir表面积)的分析仪主要是比表面积分析仪，其原理是利用高纯氮气的吸附-脱附测定(55个点)，该方法对于比表面积不大的样品较为适用，也能较快完成；但涉及到比表面积大的样品，既繁琐又费时，测量一个样品的bet和langmuir表面积可能需要12小时甚至更长时间。另外，由于该方法是先用高纯氮(n2)和氦(he)进行除湿和恒重预处理，因此需要对样品进行表面处理，然后通过氮气的吸附和解吸来测定非晶态二氧化硅的bet和langmuir，这需要相当长的时间，有些标本甚至需要24小时以上才能测定，表面积越大，反应时间越长。同时，样品预处理时间、样品处理温度、样品大小、样品的自吸附特性等因素对比表面积分析仪测定的比表面积结果有一定的影响。

因此，需要提供一种较为简便且准确的检测方法。