手机特殊条件测试可靠性测试

手机特殊条件测试

 1. 低温跌落试验（low temperaturedrop test）

 ² 测试环境：-20°c；4台手机；开机状态。

 ² 试验方法：将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-20°c的低温试验箱内1小时后取出，进行1.2米的6个面跌落，2 环，要求3分钟内完成跌落，方法同常温跌落。

 ² 检验标准：手机外观，结构，功能和电性能参数符合要求。

 2. 扭曲测试（twisttest）

 ² 测试环境：室温；4台；开机状态；0.08倍手机厚度n·m力矩扭曲手机1000次。

 ² 检验标准：手机没有变形,外观无异常，各项功能正常。

 3. 软压测试（s） 

² 测试环境：室温（20~25°c）；4台；开机状态；25kg力反复挤压手机10000次

 4. 撞击测试（impacttest） 

² 测试环境：室温（20~25°c）；4台手机；0.2j的功率，打击镜片四角及中心各式各1 次。

 检验标准：手机镜盖无变形，无裂缝，无破损（允许有白点），　lcd功能正常。