苏州产品未知异物分析检测-扫描电镜分析
- 供应商
- 广分检测技术（苏州）有限公司
- 认证
- 检测范围
- 未知异物分析
- 周期
- 5-7天
- 服务范围
- 全国
- 手机号
- 13545270223
- 联系人
- 谷经理
- 所在地
- 江苏省昆山市陆家镇星圃路12号智汇新城B区7栋
- 更新时间
- 2024-05-10 09:00
未知异物分析主要针对较难辨别异物类型的情况下进行的综合分析，主要是结合了有机异物分析及无机异物分析的方法。其分析手段主要有以下几种：
| 红外光谱ftir | 有机物定性；有机污染物分析 | 能进行微区分析，其显微镜测量孔径可到8μm或更小，可方便地根据需要选择样品不同部分进行分析 | gb/t 6040-2002 |
| 扫描电子显微镜&x射线能谱sem/eds | 表面微观形貌观察；微米级尺寸量测；微区成分分析；污染物分析 | 能快速的对各种试样的微区内be~u的大部分元素进行定性、定量分析，分析时间短 | jy/t 010-1996 gb/t 17359-2012 |
| 飞行时间二次离子质谱仪tof-sims | 有机材料和无机材料的表面微量分析；表面离子成像；深度剖面分析 | 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度可以检测到ppm或更低的浓度；深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率；小面积分析 | astm e1078-2009 astm e1504-2011 astm e1829-2009 |
| 动态二次离子质谱d-sims | 产品表面微小的异物分析；氧化膜厚度分析；掺杂元素的含量测定 | 分析区域小，能分析≥10μm直径的异物成分；分析深度浅，可测量≥1nm样品；检出限高，一般是ppm-ppb级别 | astm e1078-2009 astm e1504-2011 astm e1829-2009 |
| 俄歇电子能谱aes | 缺陷分析；颗粒分析；深度剖面分析；薄膜成分分析 | 可以作表面微区分析，并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像 | gb/t 26533-2011 |
| x射线光电子能谱xps | 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析；表面成分及化学状态信息；深度剖面分析 | 分析层薄，分析元素广，可以分析样品表面1-12nm的元素和元素含量 | gb/t 30704-2014 |
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