PCIE接口性能测试

pcie接口性能测试

使用sigtest软件进行波形参数分析，并生产测试报告，判断结果
    嵌入封装影响后，用示波器采集封装影响后的波形文件（数据信号），直接采集时钟信号，分别存储成独立的文件（一个时钟信号文件，一个数据信号文件），未来提高存储速度，建议存为.bin或.wfm等二进制格式的文件。然后，把文件导入到sigtest分析工具里进行后分析处理，如下图所示。
    数据类型（data type)选择：dual portdifferential。
    输入正确的采样间隔（50gsa/s采样率对应为20ps,40gsa/s采样率对应为25ps）。
    选择正确的模板文件：pcie_3_8gb_dual_port_multi_ctle_dfe.