PCIE接口性能测试
- 供应商
- 北京淼森波信息技术有限公司
- 认证
- 联系电话
- 18601085302
- 手机号
- 18601085302
- 联系人
- 邓经理
- 所在地
- 北京市海淀区永泰庄北路1号天地邻枫2号楼A座B101
- 更新时间
- 2024-08-30 07:28
pcie接口性能测试
使用sigtest软件进行波形参数分析,并生产测试报告,判断结果
嵌入封装影响后,用示波器采集封装影响后的波形文件(数据信号),直接采集时钟信号,分别存储成独立的文件(一个时钟信号文件,一个数据信号文件),未来提高存储速度,建议存为.bin或.wfm等二进制格式的文件。然后,把文件导入到sigtest分析工具里进行后分析处理,如下图所示。
数据类型(data type)选择:dual portdifferential。
输入正确的采样间隔(50gsa/s采样率对应为20ps,40gsa/s采样率对应为25ps)。
选择正确的模板文件:pcie_3_8gb_dual_port_multi_ctle_dfe.
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