CLOCK 正占空比测试介绍,SATA接口测试,LVDS信号完整性测试
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- 北京淼森波信息技术有限公司
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- 更新时间
- 2024-06-15 07:28
clock 正占空比测试介绍 sata接口测试 lvds信号完整性测试
clock 正占空比测试
在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发,在auto狀态下尽量向下调整触发电平,使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形,调整好scale,进行single操作。预先按下single按钮,在信号输入端尽量靠近芯片管脚测试,量测结果如下图所示,通过在measure菜单选择正占空比测量项对波形进行测量。分析波形,正占空比应在芯片规格范围。
高速电路测试服务项目有:
①si信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口测试、urat测试、网口测试、usb2.0/usb3.0测试、mipi测试、hdmi测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。
②pi电源完整性测试,主要内容是电源的电压值(精度)、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。
③ 接口一致性测试,主要有以太网、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displayport、pcie。
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