扫描电镜分析 扫描电镜分析方法和标准大全

扫描电镜分析（scanning electron microscopy, sem）是一种强大的电子显微镜技术，它通过极细的电子束在样品表面上扫描，然后按电视原理放大成像，显示在电视屏幕上。这种分析方法不仅能够直接观察样品表面的微观结构，而且样品制备过程简单，对样品的形状没有任何限制，即使是粗糙表面也可以直接观察。

中科检测的扫描电镜分析服务

中科检测开展的扫描电镜分析服务，具备cma、cnas资质认证，确保了服务的专业性和性。我们的服务覆盖了石油、地质、矿物领域，电子、半导体领域，医学、生物学领域，化工、高分子材料领域，公安刑侦工作领域，以及农、林业等多个方面。

扫描电镜分析的特点

直观的微观结构观察：扫描电镜分析能够直接观察样品表面的微观结构，样品制备过程简单，对样品的形状没有任何限制，粗糙表面也可以直接观察。

大自由度的样品室：样品在样品室中可动的自由度非常大，可以作三度空间的平移和旋转，这对观察不规则形状样品的各个区域细节带来了方便。

立体感强烈的图像：扫描电镜的景深是光学显微镜的数百倍，是透射电镜的数十倍，故所得到的图像立体感比较强。

放大倍数范围大：从几倍到几十万倍连续可调。分辨率也比较高，介于光学显微镜和透射电镜之间。

对样品损伤小：电子束对样品的损伤与污染程度小。由于扫描电镜电子束束流小，且不是固定一点照射样品表面，而是以光栅扫描方式照射样品，所以对样品的损伤与污染程度比较小。

综合分析能力：在观察样品微观形貌的同时，还可以利用从样品发出的其它物理信号作相应的分析，如微区成分分析。

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