材料中的有害物质检测，扫描电镜分析成分

材料中的有害物质检测，扫描电镜分析成分

颗粒状试样：对于无法研磨的粗颗粒状试样是比较麻烦的。一个方法是将颗粒尽可能切割成相同厚度的薄片，然后整齐的平铺在胶带上；另一个方法是将颗粒熔融或溶解，制成片状试样，但前提是不能破坏试样原有的结构；

⑥液体试样：溶液试样须注入毛细管中测试。制备溶液时，需注意：

1、溶质在溶剂中完全溶解，即无沉淀。

2、溶质与溶剂的电子密度差尽可能大。

在高分子材料中的应用

在天然的和人工合成的高聚物中，普遍存在小角x射线散射现象，并有许多不同的特征。小角x射线散射在高分子中的应用主要包括以下几个方面：

①通过guinier散射测定高分子胶中胶粒的形状、粒度以及粒度分布等；

②通过guinier散射研究结晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微区（包括分散相和连续相）、高分子中的空洞和裂纹形状、尺寸及分布等；

③通过长周期的测定研究高分子体系中片晶的取向、厚度、结晶百分数以及非晶层的厚度等；

④高分子体系中的分子运动和相变；

⑤通过porod－debye相关函数法研究高分子多相体系的相关长度、界面层厚度和总表面积等；

⑥通过强度的测量，测定高分子的分子量。