罗德与施瓦茨将举办电力电子在线峰会，聚焦碳化硅与氮化镓器件测量验证难题

随着能效标准持续收紧、功率密度要求不断攀升，电力电子行业正迎来新一轮技术跃迁。德国测试测量领域的企业罗德与施瓦茨（Rohde & Schwarz）宣布，将于2026年5月5日至6日举办主题为"From Design to Validation"（从设计到验证）的电力电子在线峰会，面向全球工程师和研究人员免费开放，但须提前注册。

此次峰会的背景，正是电力电子市场所面临的多重结构性压力：更严苛的效率指标、更高的功率密度要求，以及大规模电网融合所带来的系统复杂性。这些趋势直接传导至工程端——非理想器件特性的处理、宽禁带器件的高速瞬态应力管控、日益严格的电磁兼容（EMC）合规要求，均成为当前研发与量产的核心痛点。峰会将以示波器、矢量网络分析仪、精密功率分析仪等测量仪器为核心工具，提供针对上述挑战的系统性解决方案。

日立能源与英飞凌携手，聚焦碳化硅与氮化镓器件可靠性

峰会第一天（5月5日）由日立能源（Hitachi Energy）技术专家Tobias Keller主持基调演讲，主题为"功率半导体：塑造未来电网——未来数十年的性能与可靠性"。演讲将深入剖析面向高压电网应用的硅（Si）与碳化硅（SiC）器件鉴定评估方法，重点涵盖热循环测试、短路耐受能力及长期可靠性数据积累，这对于SiC器件从实验室走向大规模工程应用至关重要。

第二天（5月6日）的基调演讲由英飞凌科技（Infineon Technologies）专家Veit Hellwig担纲，聚焦氮化镓（GaN）技术在高压电机逆变器拓扑中的应用前景。GaN器件凭借高开关频率和低导通损耗，正在工业驱动和新能源汽车领域加速渗透，此次演讲将为工程师提供拓扑设计层面的系统性参考。

七大技术专题覆盖测量全链路，EMC与谐波合规尤为突出

两场基调演讲之外，峰会还设有多个针对性极强的技术专题。无源器件特性评估专题将重点讲解100 MHz以上频段寄生电感与寄生电容的提取方法，以及这些寄生参数对变换器稳定性的影响——这一问题在高频SiC/GaN电路设计中首当其冲，却常被忽视。

另一专题聚焦SiC与GaN功率器件的自动化动态特性测试，介绍如何通过双脉冲测试平台与高速数字化仪的时序同步，降低测量不确定度并捕捉高速恢复行为。这对于缩短功率模块验证周期、提升测试一致性具有直接的工程价值。

EMC方向共设两个专题：其一聚焦近场探头在辐射噪声源定位及EMI滤波器有效性验证中的实操方法；其二则演示如何利用线阻抗稳定网络（LISN）与混合信号示波器完成小规模原型机的传导发射测量工作流，并结合时频分析功能优化滤波器设计。

在数据中心与AI服务器电源效率测量专题中，峰会将探讨如何在波形畸变和负载骤变条件下实现高精度功率测量，并详解满足80 PLUS认证要求的实际输入输出功率测量规范。随着AI算力基础设施的快速扩张，数据中心电源效率管理已成为全球关注的焦点议题。

Zui后一个专题聚焦低压并网产品的谐波电流与电压闪烁合规测试，涵盖IEC/EN 61000-3-2/-3-3及IEC/EN 61000-3-12/-3-11标准的限值要求和测试流程，并演示如何借助与功率分析仪集成的合规测试软件，从初期原型验证到Zui终认证全程实现自动判定，大幅压缩合规测试周期。

学术与产业双轨并行，多所高校与头部企业联合授课

此次峰会的演讲阵容横跨产学两界，除罗德与施瓦茨自身专家外，还汇聚了日立能源、英飞凌、PE-Systems、Würth Elektronik等产业界头部机构，以及不莱梅大学和萨拉戈萨大学（均为德国和西班牙的电力电子研究重镇）的学术专家。这种"理论框架+工程实践"的双轨授课模式，有助于参与者将前沿研究成果与实际测量操作有效衔接。

罗德与施瓦茨创立于1933年，总部位于德国慕尼黑，是全球电子测量、技术系统及网络安全领域的龙头企业，产品广泛服务于汽车、无线通信、航空防务等行业。此次峰会免费向全球参与者开放，注册及议程详情可访问官网查询。国内从事功率器件开发、电源模块设计及EMC合规测试的工程师，可借助这一平台系统了解国际主流测量方案的Zui新进展，尤其是SiC/GaN器件验证方法论的演进方向，对于提升自研测试体系的规范化水平、加快产品认证效率，具有切实的借鉴意义。