emmi光发射显微镜漏电检测定位热点分析失效分析
- 供应商
- 仪准科技(北京)有限公司
- 认证
- 联系电话
- 01082825511-728
- 手机号
- 13488683602
- 芯片IC检测
- sunny
- 所在地
- 北京市海淀区软件园广场
- 更新时间
- 2023-11-09 16:32
光发射显微镜是器件分析过程中针对漏电失效模式,必不可少的分析工具。器件在设计、生产制造过程中有绝缘缺陷,或者期间经过外界静电击穿,均会造成器件漏电失效。漏电失效模式的器件在通电得状态下,内部形成流动电流,漏电位置的电子会发生迁移,形成电能向光能的转化,即电能以光能的方式释放,从而形成200nm~1700nm红外线。光发射显微镜主要利用红外线侦测器,通过红外显微镜探测到这些释放出来的红外线,从而精准的定位到器件的漏电点。我司推出的p-100光发射显微镜(emmi),在同业中具有超高的性价比,并凭借良好的售后服务,迅速占领市场.目前大中国地区的知名失效分析客户有:上海宜硕、深圳宜智发、上海闳康、上海矾诠、广州五所、北京电科院、东南大学、乐山菲尼克斯、深圳明微。。。。。。
junction leakage oxide leakage
esddamage avalanche-20x backside image
polyfilaments backside observation
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