钢板未知牌号分析来宾分析实验室

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金属成分分析的简介
x-射线荧光光谱
(x-ray fluorescence spectrometry, xfs)是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点;x射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型;具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。本低强度低，分析灵敏度高，其检测限达到10-5～10-9g/g(或g/cm3);可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。
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